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形状测量激光显微系统

形状测量激光显微系统

规格型号:VK-X250K
运行状态: 启用
仪器类型: VK-X250K
仪器认证: 已进行计量认证
参考收费标准: 按相关收费标准执行
服务信息
"综合倍率 28000 倍以下,显示分辨率 0.5 nm,测量用408 nm激光光源 光学系统:针孔共聚焦光学系统 光接收元件:光电倍增器、16 bit 感应 扫描方式 (常规测量时及图像连接时):自动上下限设置功能 高速光量最佳化功能(AAG Ⅱ)反射光量不足补充功能(双扫描)"
用于表面粗糙度、表面形貌等的测量
先进制造
客户提前10天申请,商榷检定日期,检定人员到现场检定,待检定合格后方可使用。
联系方式
张维
18030283160
zhangwei@xmu.edu.cn
化学楼215