场发射扫描电子显微镜
Scanning Electron Microscope
- 规格型号：FESEM
- 运行状态： 启用
- 仪器类型： FESEM
- 仪器认证： 已进行计量认证
- 参考收费标准： 按相关收费标准执行
服务信息
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二次电子像不低于1.2nm/15kV，不低于2.2nm/1kV， 放大倍数30－100万倍， 加速电压0.02ＫＶ-30ＫＶ
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配备能谱仪，可定量定性分析元素含量 配备离子溅射仪，对于不导电样品可进行喷金处理
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电子信息
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客户提前10天申请，商榷检定日期，检定人员到现场检定，待检定合格后方可使用。
联系方式
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郭生士A
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13959215976
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xmguo2002@xmu.edu.cn
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