
探针式轮廓仪
- 规格型号:Dektak XT
- 运行状态: 启用
- 仪器类型: Dektak XT
- 仪器认证: 已进行计量认证
- 参考收费标准: 按相关收费标准执行
服务信息
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1、最大扫描长度:50mm; 2、最大样品厚度:50mm; 3、垂直方向的扫描范围:1000um; 4、高度测试重复性:4A; 5、垂直分辨率:不低于0.1nm; 6、样品台:直径8英寸,可360°自动旋转; 7、XY移动载物台:X150mm行程,Y150mm行程,可视化操作; 8、探针压力:1-15mg范围内能以1mg步进调整,精确控制探针压力; 9、具有3D扫描功能,在3D扫描过程中实时显示扫描结果。
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1、光学系统:侧视光学系统,彩色CCD,视场范围1~4mm可调; 2、采用LVDT或LVCT探针传感器,保证仪器稳定性,数据重复性和可靠性;3、单次扫描最大采样点数不少于120000; 4、仪器配有环境保护罩,防止静电环境影响; 5、配备专用探针更换工具,保障换针的便捷与安全。 应用领域:应用于半导体、微电子、光电子、触摸屏、太阳能、材料科学、金属等领域,实现纳米级的表面形貌(主要为厚度)测量。
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电子信息
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客户提前10天申请,商榷检定日期,检定人员到现场检定,待检定合格后方可使用。
联系方式
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吕文龙
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13959223602
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lwl1980@xmu.edu.cn
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洁净室Room6