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台阶膜厚仪

台阶膜厚仪

Automatic Stylus Profiler and Stress Measurement System

规格型号:DEKTAK-XT
运行状态: 启用
仪器类型: DEKTAK-XT
仪器认证: 已进行计量认证
参考收费标准: 按相关收费标准执行
服务信息
(1)垂直方向分辨率: 可达 1A ( 在 6.55pm 量程范围内)|, 2 μm 钻石材质半径探针,无防震台验收。 (2)垂直方向扫描范围: 1mm。 包含有 4 个量程, 分别为 6.55μm、 65.5μm、 524μm 、1000μm。 可根据不同测量范围一键切换不同量程, 无需更换扫描头, 使用更方便, 测量更精准, 误差更小。 (3)水平方向单次扫描长度范围:55mm (4)探针台阶高度重复性 :≤4A (5)可放置最大样品厚度:50mm
(1)釆用成熟的 LVDT 电感式传感器原理, 保证 Z 轴方向高分辨率测量, 兼顾 使用精度和可靠性。 (2)自动样品台, 自动定位、 自动测量。 (3)可做表面轮廓三维形貌测量, 配备相应的数据分析软件, 具备数据存储、处理、 输出功能。 (4)具备薄膜应力测试功能。
电子信息
客户提前10天申请,商榷检定日期,检定人员到现场检定,待检定合格后方可使用。
联系方式
林俊江
15859703581
junjiang@xmu.edu.cn
能源材料大楼1号楼微纳制造中心实验1