半导体参数分析仪
- 规格型号：4200A-SCS
- 运行状态： 启用
- 仪器类型： 4200A-SCS
- 仪器认证： 已进行计量认证
- 参考收费标准： 按相关收费标准执行
服务信息
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I-V源测量单元（SMU）：±210V/100mA的测量范围，10aA的测量分辨率； C-V多频率电容单元（CVU）：1kHz-10MHz频率范围，±30V内置DC偏置源； 脉冲式I-V超快速脉冲测量单元（PMU）：200MSa/s，5ns采样率；
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I-V源测量单元配置了前端放大器，提供最小1pA的电流测量量程，10aA的电流测量分辨率；可以与自制显微紫外光谱系统、450W紫外氙灯系统、标准光绝对量测试系统等组成完整的光电探测器测试系统。
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其他
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客户提前10天申请，商榷检定日期，检定人员到现场检定，待检定合格后方可使用。
联系方式
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吴少雄A
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18959219537
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wsx@xmu.edu.cn
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