
比表面积和孔隙分析仪(TriStar II 3020 翔安校区醇醚酯106)
- 规格型号:TriStarII 3020
- 运行状态: 启用
- 仪器类型: TriStarII 3020
- 仪器认证: 已进行计量认证
- 参考收费标准: 按相关收费标准执行
服务信息
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进行单点和多点BET比表面积,Langmuir比表面积,可测得BET比表面积最少至0.01m2/g; Temkin and Freundlich等温线分析; 多种厚度层公示计算的BJH中孔和大孔的孔体积、孔面积对孔径的分布; 孔体积和用户指定孔径范围内的总孔体积; MP法的微孔孔径分布和t-plots、αs-plots得到的微孔总孔体积; f-Ratio plots,D-R,D-A; H-K法(包括Cheng & Yang校正,Saito & Foley校正); DFT密度函数理论,包括NLDFT等。
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仪器可同时进行三个样品的分析,满足测试量大的用户,不是多个工作站的"排队分析",每个分析站都配有独立的传感器,保证三个分析站分析的同时进行。 配备了大容量杜瓦瓶,结合专利的液氮等温夹,保证至少60小时无人介入操作。最大无上限的连续分析。 借助于气体吸附原理(典型为氮气)可进行等温吸附和脱附分析,用于确定比表面积、微孔孔体积和孔面积、中孔体积和面积、总孔体积等。 适用于各种材料的研究与产品测试,包括测量沸石、碳材料、分子筛、二氧化硅、氧化铝、土壤、黏土、有机金属化合物骨架结构等各种材料。
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新材料
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客户提前10天申请,商榷检定日期,检定人员到现场检定,待检定合格后方可使用。
联系方式
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张先华
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13515968320
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xhzhang@xmu.edu.cn
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翔安校区能源1号楼醇醚酯106室