
聚焦离子束扫描电子显微镜
Focused ion beam scanning electron microscopy
- 规格型号:Helios 5 UC
- 运行状态: 启用
- 仪器类型: Helios 5 UC
- 仪器认证: 已进行计量认证
- 参考收费标准: 按相关收费标准执行
服务信息
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1. 电子束: (1)电子枪类型:肖特基场发射灯丝 (2)分辨率: 0.6 nm @15KV ,1.2 nm @1kV (3)加速电压:350 V - 30 kV (4)电流:0.8 pA -100 nA (5)着陆电压:20 eV - 30 KeV (6)具有单色器设计,低电压下的高分辨观察性能良好 2. 离子束: (1)离子源种类:液态Ga离子源 (2)分辨率:2.5 nm @ 30kV(选择边统计法) (3)加速电压:500 V - 30 kV (4)电流:1.0 pA -100 nA 3. 探测器: (1)样品室内二次电子探测器(ETD) (2)物镜上方正光轴上镜筒内In-lens二次电子或背散射电子探测器(TLD) (3)镜筒内In-lens探测器上方、正光轴能量选择背散射电子探测器(MD) (4)镜筒内In-lens探测器上方、二次电子和背散射电子探测器(ICD); 4.气体注入系统: 拥有独立的单气体注入系统Pt/C,可在离子束、电子束诱导下进行可控沉积。
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(1)三维重构:高精度聚焦离子束切割加工和扫描电镜成像,获得细胞或者组织的三维结构。 (2)高分辨率微观表面形貌成像观察。 (3)与激光共聚焦、双光子显微镜等光学显微镜进行光电联用,在激光共聚显微镜下对蛋白定位,电镜中采用联用技术快速定位到光镜成像的区域并进行高分辨的三维数据采集,进而检测不同细胞与细胞之间、分子与分子之间、蛋白与蛋白之间的相互关系,清晰的揭示出生物组织中相邻的不同结构之间的关系。
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生物制药
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客户提前10天申请,商榷检定日期,检定人员到现场检定,待检定合格后方可使用。
联系方式
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吴彩明
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13696938812
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wucm@xmu.edu.cn
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A113