超高分辨率荧光寿命成像系统

（一）激光器系统 1.固体激光器：405nm 2.脉冲白激光器: 在440nm-790nm范围内，步进精度1nm，自由选择激发谱线进行成像，即具有351个波段的激光器。 3.最多可同时调节出8根激发谱线，每根激发谱线的强度均可独立调节，调节精度0.01%。 （二）检测器 1.内置高灵敏自由可调光谱型Power HyD荧光检测器5个，每个荧光检测器都可做全光谱自由扫描和成像，其中三个为HyD S检测器，二个为HyD X检测器。 2.透射光明场检测器：1个PMT检测器 （三）STED超高分辨率成像 1.采用受激发射损耗（STED）纯光学的超高分辨率成像技术，可做光学切片成像和实时成像； 2.配有三个受激发射损耗激光器：592nm和660 nm固体激光器，775nm脉冲激光器。 3.超高分辨率成像的光学分辨率（取决于样本和荧光团）：xy分辨率≤30nm，z轴分辨率≤130nm。 （四）荧光寿命成像 1.系统可以基于荧光寿命信息去除反射光和样品自发荧光，提高图像反差，同时可以截取两个光子到达时间窗口来获取有效信号。 2.系统可以通过测量平均荧光到达检测器的时间，得到荧光寿命信息，使成像的结果可以直接包含平均荧光到达信息，从而使一次成像得到多种数据，可用于组织自发荧光成像。 3.系统可以通过测量平均荧光到达检测器的时间，利用荧光寿命信息直接对染料拆分, 能够有效区分光谱重叠而荧光寿命不同的荧光组分。 4.荧光寿命传感成像分析系统和共聚焦系统耦合程度高，荧光寿命分析和共聚焦其他功能可以同时共同使用，包括大视野拼图，三维成像等。

超高分辨率荧光寿命成像系统.Leica STELLARIS 8 STED特别适合多色应用，440nm-790nm连续超宽谱线的激发极大丰富了染料的选择，可以进行多种荧光共定位研究，以超衍射极限的细节进行解析，Power HyD检测器极高的灵敏度以及1.5纳秒全系统死区时间可保证在信噪比和背景方面获得出色的图像质量，同时光子收集/像素停留时间比 APD检测器至少多10倍。该系统还完全整合了荧光寿命成像 (FLIM) 解决方案，可以通过 FLIM-FRET（荧光共振能量转移）跟踪分子间的快速相互作用，通过荧光寿命对比区分多个荧光团，或使用生物传感器检测代谢状态和微环境的变化。

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客户提前10天申请，商榷检定日期，检定人员到现场检定，待检定合格后方可使用。