探针式轮廓仪（台阶仪）
- 规格型号：DEKTAKXT
- 运行状态： 启用
- 仪器类型： DEKTAKXT
- 仪器认证： 已进行计量认证
- 参考收费标准： 按相关收费标准执行
服务信息
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1、分辨率：6.5μm量程下为0.1nm 2、台阶高度重复性：0.4nm，1sigma在1μm台阶上 3、信号采集点：最多可达120000数据点 4、扫描长度：55mm 5、量程：高度方向最大量程为1mm
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1、薄膜测试，可对纳米级别膜层厚度或台阶高度进行准确测量。 2、表面粗糙度检测，适用于汽车、航空、医疗设备等多行业精密零部件的表面粗糙度常规鉴定。
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电子信息
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客户提前10天申请，商榷检定日期，检定人员到现场检定，待检定合格后方可使用。
联系方式
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戴彬
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13695987287
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daibin@xmu.edu.cn
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文宣楼C406-3
