射频芯片测试系统
- 规格型号：NI射频芯片测试系统
- 运行状态： 启用
- 仪器类型： NI射频芯片测试系统
- 仪器认证： 已进行计量认证
- 参考收费标准： 按相关收费标准执行
服务信息
-
可编程射频芯片测试系统， 包含高速ADC/DAC模块和高精度ADC/DAC模块
-
软件定义仪器, Labiew编程控制
-
其他
-
客户提前10天申请，商榷检定日期，检定人员到现场检定，待检定合格后方可使用。
联系方式
-
郭子超
-
15260208919
-
gzc@xmu.edu.cn
-
翔安校区 > 翔安校区主楼四号楼 > C201
