紫外近红外分光光度计

1. 计算机控制的双光束、双单色器系统，带有微处理系统的，比率记录式紫外/可见/近红外分光度计 2. 光路系统：全反射Littrow型光路系统，样品厚度补偿检测器光路。整个光学系统均采用涂覆SiO2的全息刻线光栅， 紫外/可见光栅刻线数1440条/mm，闪耀波长240 nm，近红外光栅刻线数360条/mm，闪耀波长1100 nm 3. 斩波器系统：采用46+ Hz四区分段扇形信号收集斩波器技术(黑区/样品/黑区/参比循环，CSSC技术) 4. 检测器：紫外/可见区采用高灵敏度光电倍增管；近红外区采用InGaAs光电二极管和冷却型PbS光电导原件。 5. 光源：预先校准的直氘灯和卤钨灯

对材料光学吸收特性的表征是光电功能材料研究工作当中一个必不可少的部分。在固态发光材料（例如光致发光荧光粉）的设计中，必须充分考虑发光材料的有效吸收波长范围，材料的吸收波长应与激发光源的发射波长重合，才能有效的激发；并且发光材料的发光波长范围内材料的光学吸收应该尽量小，避免发光损失。紫外近红外分光光度计是表征各种材料光学吸收最为有效的测试设备，应用环境包括透明材料的吸收光谱，粉体材料漫反射光谱及薄膜材料的直接反射光谱等。

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客户提前10天申请，商榷检定日期，检定人员到现场检定，待检定合格后方可使用。