场发射扫描电子显微镜G360
Field Emis#### Scanning Electron Microscopy
- 规格型号：GeminiSEM360
- 运行状态： 启用
- 仪器类型： GeminiSEM360
- 仪器认证： 已进行计量认证
- 参考收费标准： 按相关收费标准执行
服务信息
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分辨率： 二次电子分辨率：≤0.7nm@15kV，≤1.2nm@1kV
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该设备具有独立的二次电子探测器（Inlens二次电子探测器和SE2探测器）和背散射电子探测器（EBS电子探测器和），能够获得样品表面形貌的二次电子图像或者背散射电子图像，用以观察样品在微、纳米级尺度上的表面形貌及结构
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新材料
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客户提前10天申请，商榷检定日期，检定人员到现场检定，待检定合格后方可使用。
联系方式
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黄恒亮
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17850500305
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huanghl@xmu.edu.cn
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翔安校区 > 能源材料大楼 > 1166
