透射电子显微镜

1.LaB6灯丝电子枪 2. 200kV下TEM点分辨率: 0.23 nm，线分辨率: 0.14 nm; 3. 能谱仪探测器面积：80mm2, EDS能量分辨率≤133eV(Mn-Ka) 4. 相机图像采集最大帧率30 fps

1. TEM模式下可进行选区电子衍射、高分辨拍照及分析； 2. 能谱具有点扫功能；（注：本设备不具备元素mapping功能） JEOL JEM-2100Plus透射电镜 加速电压200kV 配备Xplore TEM 牛津能谱 JEOL JEM-2100Plus transmis#### electron microscope operated 200kV ,Xplore TEM Energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS）

新材料

客户提前10天申请，商榷检定日期，检定人员到现场检定，待检定合格后方可使用。