纳米粒度及电位分析仪 Malvern Panalytical Zetasizer Ultra

1. 采用高性能He-Ne气体激光器, 波长633nm，功率10mW； 2. 激光衰减：在软件界面上能快速进行设定，可自动选择衰减器，也可手动选择衰减器，衰减器个数11个，透射率100%至0.0003%； 3. 检测器采用雪崩光电二极管(APD)； 4. 温度控制范围：0℃-120℃；精度：±0.1℃； 5. 仪器测量角度采用背向（173°）、侧向（90°）和前向（13°），三个测量角度，满足不同粒径及不同浓度范围样品的需求； 6. 粒度范围：0.3 nm-15 um； 7. 软件可自动优化测量位置，也可在0-6.4mm任意固定位置进行测量； 8. 样品浓度范围：0.1ppm-40% w/v； 9. 具有多角度动态光散射功能，可以结合三个角度上的粒度结果，计算出不依赖于角度的粒度分布结果； 10. 可自动选择测试次数，也可手动选择测试次数，测试次数可在15 - 100之间选择，测量时长至少可选择0.839s，1.68s，3.36s，6.71s，13.4s和26.8s； 11. 软件界面可选择显示稳态数据、瞬时数据和未过滤数据； 12. Zeta适合检测的粒度范围：3.8nm-100um； 13. 无需校准样品池，克服电渗影响。采用混合模式测量，即高频电场和低频电场测量技术克服电渗影响； 14. 采用恒流模式，避免电极氧化带来的影响，在软件界面上显示施加的电压和电流图； 15. 采用可抛弃型折叠毛细管样品池，避免交叉污染； 16. 避免样品与电极直接接触，最小样品量20μL； 17. 电导率范围：0-260 mS/cm； 18. 颗粒浓度范围：1x108-1x1012个/ml； 19. 具有计数率计量器，可以直接测量分散剂散射光平均计数率； 20. 测试方法可一键复制，可进行序列测试； 21. 软件界面有质量指示图标，直观显示数据质量的好坏，同时具有数据质量指南功能； 22. 测量完成后可自动计算出平均值，选中多个测试结果时，可以给出标准偏差和相对标准偏差； 23. 具有尺寸显示限制模式，可对尺寸上限和下限进行分别设定。

1. 用于高分辨率粒度测量且与角度无关的多角度动态光散射(MADLS)技术可以展现您的样品粒度分布； 2. 测量均质样品类型的颗粒浓度，无需校准，并且材料适用性广； 3. 电泳光散射(ELS)用于测量颗粒和分子的Zeta电位，以显示样品稳定性和/或团聚倾向性。

生物制药

客户提前10天申请，商榷检定日期，检定人员到现场检定，待检定合格后方可使用。