JEM-F200场发射透射电镜

TEM模式点分辨率：0.23nm，线分辨率：0.10nm STEM模式分辨率：0.16nm 能量分辨率：Mn Ka处保证优于127eV 元素分析范围: 从Be4-Cf98

1.配备自动进出样品的测角台，大大提高了操作的便利性和安全性；2. 配置二次电子探头，能够采集二次电子成像；3.配置高速CMOS相机，可以实现动态视频拍摄功能；4. 配置电制冷无窗型能谱仪，提高了对轻元素的检测灵敏度，有效探测面积≥80mm2，具有较高的能谱采集速率；5.配有洛伦茨模式，可以对磁性样品进行低倍形貌观察。

新材料

客户提前10天申请，商榷检定日期，检定人员到现场检定，待检定合格后方可使用。