多腔化合物半导体刻蚀机
- 规格型号:GDE C200U
- 运行状态: 启用
- 仪器类型: GDE C200U
- 仪器认证: 已进行计量认证
- 参考收费标准: 按相关收费标准执行
服务信息
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1、真空能力: 腔室本底真空:<0.5mT 腔室漏气率:<1.0mT/min 工艺控压范围:5-85mT 控压能力:2mT@50sccm Ar(不启辉状态) 工艺控压精度:0.1mT 2、射频系统 ICP射频电源:3000W,13.56Hz 上电极可用功率范围:150~2400W RF射频电源:1500W,13.56Hz 下电极可供功率范围:50~600W 匹配稳定时间:3s 射频精度:±1%设定值或±5W(设定值>500W) 反射功率:<3W(5-100W)或3%设定值(设定值>100W) 3、基座控温 冷水机温控范围:-20~40℃ 基座控温精度:±0.5℃ 基座控温均匀性:±1℃ 4、均匀性 片内<3%、片间<3%
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高刻蚀速率、高均匀性、颗粒管控能力强、全自动上下片
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先进制造
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客户提前10天申请,商榷检定日期,检定人员到现场检定,待检定合格后方可使用。
联系方式
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杨旭A
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13599916733
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yangxu@xmu.edu.cn
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