场发射透射电子显微镜 Jeol F-200

仪器主要技术参数 3.1电子光学系统 ▲3.1.1电子枪类型：肖特基场发射电子枪； ▲3.1.2极靴类型：冷冻型极靴； ▲3.1.3加速电压范围：20-200kV，最高加速电压必须达到200kV，需提供预设200kV和80kV两个合轴数据； ▲3.1.4 1nm束斑电流：≥0.3nA@1.0nm； ▲3.1.5 物镜：球差系数 ≤2.7 mm； 3.2 分辨率 ▲3.2.1点分辨率：≤0.3nm@200kV； 3.2.2晶格分辨率：≤0.14nm@200kV； 3.2.3信息分辨率：≤0.18nm@200kV； ▲3.3 TEM模式倍率范围：25-910,000X，或放大倍数范围优于该参数； 3.4样品台 ▲3.4.1样品更换：具备手动或自动样品更换系统，可实现方便、安全的样品更换操作； ▲3.4.2 样品移动范围：≥2.0mm (X, Y)；≥0.4mm (Z)，具有压电样品台，可精确控制样品台移动； 3.4.3样品台最大倾斜角：≥X: 15（单倾杆）；≥±90°（高倾样品杆）； 3.4.4束斑漂移：≤1nm/min； 3.5真空系统 3.5.1 典型换样时间：约60秒； 3.5.2 配置液氮冷阱，单次加满液氮持续使用时间≥13小时； 3.5.3 电子枪专用UPS：断电可持续真空度≥200小时； ▲3.5.4完全无油真空系统，需配有离子泵； 3.6三维重构系统 ★3.6.1硬件包含高倾角样品杆一套，以及高性能计算机一套、完整软件一套（数据采集、对中及重构、可视化处理）； 3.6.2 样品杆倾转角度≥±80°； 3.6.3具备自动采集数据和重构功能，并在采集过程中可以进行样品自动漂移校正； 3.7数字化CMOS相机技术规格 ▲3.7.1 分辨率：≥2000万像素； 3.7.2 像素物理大小：≥12um×12um； ▲3.7.3满像素时的采集速度≥30帧/秒； 3.7.4支持低剂量曝光（LOW DOSE）； 3.7.5支持样品动态漂移校正； 3.8电镜操作 ★3.8.1 Windows10或以上64位操作系统，在用户图形界面上完成电镜的操作控制，同时具备机前操作和人机分离操作模式； 3.8.2电镜操作者可拥有一套或多套电镜状态参数，每套状态参数相互独立，可在使用过程中迅速切换调用。可设置任意多个用户，每个用户之间的参数设置相对独立，同时还可以相互调用；

待补充

生物制药

客户提前10天申请，商榷检定日期，检定人员到现场检定，待检定合格后方可使用。