半导体综合参数测试系统
- 规格型号：3674E（矢量网络分析仪）；PXB-BE-200（八英寸手动探针台）
- 运行状态： 启用
- 仪器类型： 3674E（矢量网络分析仪）；PXB-BE-200（八英寸手动探针台）
- 仪器认证： 已进行计量认证
- 参考收费标准： 按相关收费标准执行
服务信息
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八寸探针台，26.5G
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射频性能测试
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电子信息
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客户提前10天申请，商榷检定日期，检定人员到现场检定，待检定合格后方可使用。
联系方式
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梁冬雪
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18850013376
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dxliang@xmu.edu.cn
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