小角X射线散射仪

Xeuss 3.0 HR Model 1m x 5m, GISAXS/GIWAXS module, Advanced GISAXS/GIWAXS module, High temperature sample stage(Temperature range：-150°C to 350°C), Bonse Hart USAXS add-on, Modular Force Stage

全自动二维X射线小角散射线站可实现表征包括研究各向异性纳米级结构取向和快速表征材料晶体结构，例如分子堆垛、晶粒取向、结晶度、物相变化等。设备同时可与热台、拉伸仪等多种样品处理装置联用，能对外场环境作用下材料组装基元排列（有序性）结构确演变过程现实原位表征。设备可对多种类型材料，如溶液、聚合物、生物大分子、胶体、液晶、粉末、薄膜、纤维和纳米复合材料等，表征从近原子级到近数百纳米范围亚微观结构和形态特征，获取材料体相中统计意义结构信息。

新材料

客户提前10天申请，商榷检定日期，检定人员到现场检定，待检定合格后方可使用。