
台阶仪(探针轮廓仪)
Stylus Profiler
- 规格型号:P-17
- 运行状态: 启用
- 仪器类型: P-17
- 仪器认证: 已进行计量认证
- 参考收费标准: 按相关收费标准执行
服务信息
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传感器:LVDC(Linear Variable Differential Capacitor),具有反馈机构 ·垂直方向动态扫描范围:0-327μm ·垂直方向分辨率: 0.20Å ·探针力控制范围:0.5-50 mg,(闭环反馈) ·台阶高度重复性:≤ 4 Å (台阶≤1μm) or ≤0.1%(台阶>1μm) ·台阶高度线性度:±0.5%>2000 Å,10 Å≤2000 Å ·光学平晶尺寸:直径>250mm光学平晶 ·样品采样率:5-2000Hz ·测试速度:2um/s-25mm/s ·单次最大扫描距离:≥150mm
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探针轮廓仪(台阶仪)主要用于测量纳米级至微米级台阶高度(如薄膜厚度测量、器件材料台阶高度)
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新材料
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客户提前10天申请,商榷检定日期,检定人员到现场检定,待检定合格后方可使用。
联系方式
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张先华
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13515968320
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xhzhang@xmu.edu.cn
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