原位/工况X射线吸收-发射光谱表征系统

一台设备包含X射线吸收近边结构(XANES）和扩展X射线吸收精细结构EXAFS，工作模式包含透射模式和荧光模式；工作能量范围：4.5～25keV；光通量2×106@8 KeV；能量分辨率：XANES模式下0.7-2eV；EXAFS模式下5～15eV；最高空间分辨率100µm；最大X射线通量：近边XANES>106光子/s，扩展边EXAFS> 107光子/s；

在分析材料电子轨道、配位环境中不可或缺。可以对上述各个学科研究领域设计的各类样品和材料如纳米材料、超导材料、低维材料、光电子材料、新能源材料及其他类的无机金属及非金属材料，有机高分子聚合物材料等进行包含价态、键长、配位环境、配位数、配位原子、局部有序度/无序度等进行分析。具体功能如下：揭示材料元素氧化态和键共价性(XANES)，以及配位数，电子授体和原子间距等(EXAFS)，且可对同一样品中的多种元素进行分析，也可升级和购置原位装置更可以进行原位催化反应过程中目标金属元素的化学态进行动态分析，探索反应机理并为改善催化剂提供理论指导。

新材料

客户提前10天申请，商榷检定日期，检定人员到现场检定，待检定合格后方可使用。