
激光扫描显微镜
- 规格型号:VK-X200K
- 运行状态: 启用
- 仪器类型: VK-X200K
- 仪器认证: 已进行计量认证
- 参考收费标准: 按相关收费标准执行
服务信息
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1、Z 向测量显示分辨率0.5nm 重复精度:0.012um X 向测量显示分辨率1nm 重复精度:0.02um 测量高度范围:0—7mm 2、扫描速度: 面扫描:4-120Hz,线扫描:7900Hz 3、图像分辨率:130nm 4、镜头:10X、20X、50X、150X
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主要用于样品的轮廓、形貌测量(精度)、线粗糙度和面粗糙度测量、磨耗对比测量等。
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其他
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客户提前10天申请,商榷检定日期,检定人员到现场检定,待检定合格后方可使用。
联系方式
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张秀明
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18030208883
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zhangxiuming@xmu.edu.cn
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凌峰楼-201