显微拉学光谱仪

1、光谱灵敏度: Si的三阶峰信噪比好于15:1，能检测到Si的四阶峰； 2、光谱重复性: ≤ +/- 0.2 cm-1； 3、光谱分辨率: ≤ 1.5 cm-1； 4、三种激光波长：532 nm、633 nm、785 nm； 5、物镜倍数：10X、50X、100X； 6、样品台：x=100 mm，y=100 mm，z=50 mm，连续可调。

主要用于物质的结构测定、成分分析和物理化学性质的测定。 可无损测量多种形态样品：粉末（需压实在玻片或硅片上）、薄膜、片、块状。

新材料

客户提前10天申请，商榷检定日期，检定人员到现场检定，待检定合格后方可使用。