化学分析电子谱微探针

束斑：10µm~200µm，一般100µm~200µm检测范围：原子序数大于He的所有元素 检测极限：0.5-0.01 atomic% 信息深度：0.5～7.5 nm 能量分辨率：优于0.5eV(Ag） 空间分辨率：优于10µm

具有先进的自动电中和功能，可消除非导体样品的荷电位移影响；仪器同时具有角分辩XPS功能及氩离子深度剖析功能；具有元素影像扫描功能；通过仪器附带的SPS工作台，可方便进行样品元素的化学微区分析（100～200µm）。检测固体材料表面或纵深方向的元素组成及分布，通过元素结合能位置了解元素化学状态或键合状态。任何固体样品均可，但不得具有磁性、毒性、辐射性及易挥发性。

新材料

客户提前10天申请，商榷检定日期，检定人员到现场检定，待检定合格后方可使用。