扫描电子显微镜
Scanning Electron Microscope
- 品牌：Hitachi High Technologies Cor
- 型号：S-4800
- 产地：中国
- 启用日期：2009-12-18
- 学科领域：化学
仪器信息
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扫描电子显微镜
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Scanning Electron Microscope
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分析仪器>电子光学仪器>扫描电镜
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化学
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性能指标： 1. 二次电子分辨率：1.0nm（15kV）； 2. 电子枪：冷场发射电子源； 3. 加速电压：0.5-30kV； 4. 放大倍率：20-80万倍。 主要特点： 1. 景深大，图像呈三维立体效果，能够提供很多有价值的信息； 2. 能直接观察大样品的原始表面，样品制作简单； 3. 利用X射线能谱仪可在对样品进行形貌观察的同时，对观察到的某区域或某点进行成分分析。
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1. 二次电子形貌（SEI）：对试样进行表面形貌观察分析； 2. 元素的定性分析（EDX）：结合X射线能谱仪对试样表面某区域或某点进行成分定性和定量分析。
服务信息
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表面形貌、微量元素分析
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常规检测:500元/样 高校合作:500元/小时
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详见实验处网站
联系方式
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化学化工学院
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吴元菲
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0592-2188713
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yfwu@xmu.edu.cn
