椭偏仪
无
- 品牌：J.A.Woollam.Co.Inc
- 型号：M-2000U
- 产地：美国
- 启用日期：2017-07-25
- 学科领域：化学,自然科学相关工程与技术
仪器信息
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椭偏仪
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无
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分析仪器>光谱仪器>其他
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化学,自然科学相关工程与技术
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1、光谱范围：245-1690nm 2、变角方式：计算机控制自动变角，变角范围：45-90º 3、补偿方式：旋转补偿 4、测量速度：全光谱（测试点大于650个）最快20HZ，典型全光谱1-3秒 5、测量正确度： 95%以上的被测点满足 Δ≤0°±0.05° Ψ≤45°±0.075° （直射测量，即测空气）； 6、膜厚测量重复性：0.003nm (30次2nm SiO2膜厚测量的标准偏差)
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用于薄膜厚度及光学常数的测量分析，椭偏仪的高级应用是对材料微结构、微变化的研究。具有超高的灵敏度，它能测量低达百分之一纳米（10e-10米）的变化。
服务信息
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材料表面膜层厚度和光学常数的测量
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325元/小时
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每周固定机时对外预约
联系方式
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材料学院
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郑大江
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18205913095
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zhengdajiang@xmu.edu.cn
