半导体参数测试系统
无
- 品牌：KEITHLEY INSTRUMENT INC.
- 型号：4200-sls
- 产地：美国
- 启用日期：2004-11-25
- 学科领域：自然科学
仪器信息
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半导体参数测试系统
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工艺实验设备>电子工艺实验设备>电真空器件工艺实验设备
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自然科学
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服务信息
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联系方式
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萨本栋微米纳米科学技术研究院
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蒋书森
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2187739
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13600000000@qq.com
