半导体参数测试系统
无
- 品牌：KEITHLEY INSTRUMENT INC.
- 型号：4200-sls
- 产地：美国
- 启用日期：2004-11-25
- 学科领域：物理学
仪器信息
-
半导体参数测试系统
-
无
-
工艺实验设备>电子工艺实验设备>电真空器件工艺实验设备
-
物理学
-
技术指标: 1. IV测量 电压范围：-20V～+20V 电流范围：100fA～0.1A 2．CV测量 电压范围：-20V～+20V 电容范围：10fF～2nF 电导范围：0.1nS～1uS 测量频率：100KHz/1MHz 3. 兼容性 其硬件选项包括开关矩阵、Keithley与Agilent C-V仪以及脉冲发生器多种选择
-
主要用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析、具有高精度和亚fA级的分辨率。
服务信息
-
IV测量；CV测量
-
120元/小时
-
无
联系方式
-
萨本栋微米纳米科学技术研究院
-
蒋书森
-
13859985697
-
hanson_jiang@xmu.edu.cn
