原子力显微镜
Atomic Force Microscope,AFM
- 品牌:布鲁克公司
- 型号:Dimension ICON
- 产地:美国
- 启用日期:2019-06-30
- 学科领域:化学
仪器信息
-
原子力显微镜
-
Atomic Force Microscope,AFM
-
分析仪器>电子光学仪器>其他
-
化学
-
(1) XYZ方向扫描范围:90μm x 90μm x 10μm (2) 噪声水平: ≤0.3 Å;分辨率:可得到原子级分辨率 (如对云母,石墨原子像成像表征) (3) 光学辅助观察系统:5M 像素点,可视范围从180um 到1465um,分辨率1μm,带彩色CCD 摄像头 (4) 防震台:防震频率0.5Hz (5) 自动样品台:8英寸通用型电动样品台,样品尺寸可达直径210mm,厚度15mm。数字马达控制,全自动移动并可自动旋转,真空吸附 (6)定量纳米力学功能配件:模量、刚度、表面附着力、能量耗散成像 (7)压电响应测试模块:控制器有两个内置高速锁相(1KHz – 5M...
-
(1) 电化学功能配件:电化学池可容纳40mm 直径或40mm 见方的样品。 a.包含专用电化学样品台,带60 度加热功能。 b.包含加热控制器,多功能连接器和接口以便用户与恒电位仪连接。 (2) 纳米级扫描电化学功能配件:高于100nm空间分辨率的电化学信息。 a.液体环境中实时同步获得电化学、电学以及力学特性的多维信息 b.液体环境中可表征表面电化学活性、表面公函数、表面导电率等
服务信息
-
可用于对各类材料表面形貌及各种力学、电学、化学性质等进行表征,进行高分辨率成像和提供定量的数据分析
-
480元/小时
-
需自带扫描探针
联系方式
-
材料学院
-
郭毅慧
-
18250878489
-
gyh@xmu.edu.cn