原子力显微镜
Atomic force microscope
- 品牌:Bruker
- 型号:Bruker Dimension
- 产地:美国
- 启用日期:2018-12-31
- 学科领域:物理学,材料科学
仪器信息
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原子力显微镜
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Atomic force microscope
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计量仪器>长度计量仪器>原子力显微镜
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物理学,材料科学
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X-Y方向扫描范围:90um *90um典型值,最小85um Z方向扫描范围:10um典型值,在成像及力曲线模式下;最小9.5um 垂直方向噪音基底:<30pmRMS X-Y定位噪音(闭环):<0.15nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz) X-Y定位噪音(闭环):<0.10nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz) Z传感器噪音水平(闭环):<35pm RMS, 典型成像带宽(达到625Hz) 整体线性误差(X-Y-Z):0.5% 典型值 样品尺寸/夹具:210mm真空吸盘样品台,直径210mm, 厚度15mm 电动定位样品台(X-Y轴):180mm*180mm可视区域;单向2um重复性;双向3um重复性。 工作台:整合所有控制器、结合人体工学设计,提供直接的物理或可视借口 震动隔绝:整体式气动减震台
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主要用于材料样品表面形貌观测及粗糙度分析、力学、电磁特性研究等。
服务信息
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可进行多种材料样品表面形貌观测及粗糙度分析、力学、电磁特性研究等。
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360元/小时(开机费:218.00 元;机时补贴费:40.00 元;材料费:102.00 元)
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用户按需预约使用,遵守实验室规章制度、设备操作规程和注意事项,强化安全意识,爱惜设备,节约耗材。
联系方式
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物理科学与技术学院
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杨云
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13859999762
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yangyun@xmu.edu.cn