光致发光测量仪

光致发光测量仪

Photoluminescence measurement system

分析仪器>光谱仪器>荧光分光光度计

物理学

1 单色仪焦长：320mm、2 数值孔径：f/4.1、3 光谱分辨率：0.06nm@1200g/mm with 10um Exit Slit and PMT、4 光栅转动方式：在轴扫描、5 杂散光抑制比：1 x 10-4、6 焦平面影像尺寸：30 x 12mm、7 仪器采用一体化成型结构设计，光学稳定性好，抑制杂散光、8 采用非对称式C-T光路设计，抑制二次衍射光、9 1024*256像元背照射CCD，暗电流≤0.004e/pixel/s，紫外峰值量子效率≥70%、10 拉曼光谱及光致发光光谱专用控制软件、11 完全光谱数据采集，图谱拟合、处理等功能的专业软件。

设备的购置主要用于半导体材料带隙、缺陷、物性表征。通过深紫外激光光源激发样品产生荧光光谱，能快速有效获取材料的结构和物性。

主要用于半导体材料带隙、缺陷、物性表征。

173元/小时

自行操作前须经过严格使用培训，申请时间：提前12小时，使用后关闭光谱仪手动狭缝，服务时间：工作日，8:30-18:00。