场发射透射电镜
Field Emission Transmission Electron Microscope
- 品牌：FEI公司
- 型号：Talos F200S
- 产地：美国
- 启用日期：2018-03-01
- 学科领域：材料科学,能源科学技术
仪器信息
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场发射透射电镜
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Field Emission Transmission Electron Microscope
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分析仪器>电子光学仪器>透射电镜
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材料科学,能源科学技术
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0-200kv加速电压，场发射电子枪 点分辨率 优于0.24nm 线分辨率 优于0.14nm 信息分辨率 优于0.12nm 最大样品倾角 30度 一体化能谱仪系统 Super FEI-X 系统 无窗30mm*2 电制冷能谱仪 能量分辨率优于136ev
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普通形貌像 高分辨像 衍射 STEM EDS分析点线面元素分析 广泛应用于材料微观结构的观察与分析。
服务信息
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陶瓷、金属及有机物、纳米粉体、介孔材料、纳米涂层、碳纳米管、薄膜 材料、半导体芯片线宽测量等领域已得到了广泛应用；广泛应用于材料微观结构的观察。
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按样品定价 1000元/小时起
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本仪器不接受磁性样品
联系方式
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材料学院
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王金明
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13225080152
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wjming@xmu.edu.cn
