透射电子显微镜
Trancmission electron microscope
- 品牌：日本电子株式会社
- 型号：JEM-1400Plus
- 产地：日本
- 启用日期：2019-05-01
- 学科领域：物理学
仪器信息
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透射电子显微镜
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Trancmission electron microscope
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分析仪器>电子光学仪器>透射电镜
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物理学
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一、设备参数： 1.晶格分辨率：0.20 nm；2. 加速电压40 kV～120 kV；3.冷束电子枪；4.钨灯丝或LaB6灯丝；5. 常用倍数范围5000～200,000 二、主要特点： 1.高衬度物镜极靴，非常适合低衬度样品观察；2. 简单友好的操作界面
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本系统主要用于生物样品、高分析材料的高反差形貌观察和微区的晶体结构，无选区衍射，无能谱分析。禁止用于磁性和粉末状的样品测试。
服务信息
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本系统主要用于生物样品、高分析材料的高反差形貌观察和微区的晶体结构，无选区衍射，无能谱分析。禁止用于磁性和粉末状的样品测试。
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400元/小时
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无
联系方式
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物理科学与技术学院
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王浩
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18959202971
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h_wang@xmu.edu.cn
