EMI近场扫描测试系统

EMI近场扫描测试系统

Near-field Electromagnetic Scanning System

电子测量仪器>射频和微波测试仪器>射频和微波测量系统

动力与电气工程,电子与通信技术

1、探头分量：Hxy; H; ,Exy; Ez 2、频率范围：10kHz-6GHz3 3、机械臂：六轴机械臂 4、扫描范围：正方形X/Y轴：250mm*250mm ；长方形X/Y：400mm*180mm; Z轴：250mm 5、低噪放增益：@100kHz-1MHz：19dB @1MHz-6GHz： 32dB 6、摄像装置：是 7、机械臂移动步进：X/Y/轴0.02mm；Z轴：0.05mm；θ轴：1° 8、软件功能：EMI分析平台; 场计算功能; 生成自定义报告; 2D/3D/4D绘图功能; 测量功率密度以及坡印廷矢量

用途：近场扫描仪可以对集成电路PCB、天线及微波器件等进行上方电磁场扫描，从而获得PCB电路和天线的近场数据，绘制场云图。可以快速、可靠并精确的锁定PCB电路的电磁泄漏，具有占地面积小，测量精度高等特点。

电磁干扰分析、集成电路、天线、微波器件、电磁场近场

根据测试难度和时间，双方沟通收取费用。

申请条件：用户了解频谱仪，网络分析仪的基本操作。懂得射频同轴线的基本连接方式。 申请方式：邮件xxp@xmu.edu.cn 申请时间：工作日早上9点至下午5点 申请流程： 1，通过邮件联系。 2，确认所需测量仪器及其状态（可用或者已经借出）。 3，确认使用时间。 服务时间安排： 工作日早上9点至下午5点 （安排一名人员陪同测试）