导电原子力显微镜

导电原子力显微镜

Conductive Atomic Force Microscope

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化学

1、 扫描范围：100μm x 100μm x 15μm（三方向闭环扫描器） 2、 扫描器使用探针扫描方式，扫描时样品在XYZ三个方向时刻保持固定，容许外加电路、信号连线、微吸管等可以与探针同步、原位工作不受影响。 3、 扫描器压电管下方有防漏液、防水气设计，并且确保针尖以下到样品台范围没有任何电子元器件，确保设备在有化学溶液的应用中完全没有漏液引起的风险。 4、 垂直方向噪声水平：< 50pm 5、 探针必须通过电动方式自动下针，不接受手动下针以保护针尖与样品。 6、 样品空间：140mm直径x 18mm高度的样品空间，可接受显微镜载玻片、盖玻片、培养皿、标准小铁片...

大气和液体中的接触式、非接触式形貌扫描和力谱测量工作模式、侧向力显微镜、相位测量模式、导电原子力显微镜、品质因子控制、悬臂梁热调制等。其噪音水平为：Z方向噪声水平：<50pm；XY方向定位噪音水平：<0.2nm；悬臂挠度噪声 <15pm RMS。扫描范围XYZ: 100μm x 100μm x 15μm，在良好的隔音和减震环境条件下可得到原子级分辨率，可测试单分子力谱或单分子层。

表面成像、力学性质测量、局域导电性能测量。

高校合作：100元/小时

测试前请先电话联系