近场扫描光学显微镜
Near field scanning optical microscope
- 品牌:NT-MDT/Netherlands
- 型号:NTEGRA Spectra SNOM
- 产地:荷兰
- 启用日期:2020-12-14
- 学科领域:物理学,材料科学
仪器信息
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近场扫描光学显微镜
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Near field scanning optical microscope
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分析仪器>电子光学仪器>扫描电镜
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物理学,材料科学
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光纤式近场扫描光学显微镜扫描头 可以实现透射式NSOM和收集式NSOM的功能 光纤探针孔径:≤100nm 扫描范围:90х90х9 μm, 光谱范围:可见光到近红外。 原子力显微镜扫描头 在空气环境条件下实现接触式、半接触式模式工作 扫描范围:大于或等于90х90х9 μm, 噪声水平:XY方向噪音水平小于1.0nm;Z方向噪音水平小于0.5nm 样品定位精度:小于5 μm, 扫描控制模式:闭环控制 扫描头定位器:定位范围小于5mmх5mm 定位精度小于5 μm , 扫描平台定位器:定位范围小于5mmх5mm 定位精度小于5 μm
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近场扫描光学显微镜工作模式多种多样, 光路配置灵活, 还能与脉冲激光及其探测技术相结合,同时进行时间分辨和空间分辨探测. 正因为这一系列独特的优势, 近场扫描光学显微镜已经逐渐成为一维功能半导体纳米材料发光性质研究的一种重要手段。
服务信息
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近场扫描光学显微镜突破了光学衍射极限的限制, 可以在超高光学分辨率下进行纳米尺度光学成像与纳米尺度光谱研究。低维功能半导体纳米材料具有微小的结构, 以及不同位置的微区各异的光学性质, 传统方法对它们发光性质的测量往往只能得到比较大区域内所有器件的集体效果, 缺乏对纳米尺度某个特定结构及其特定部位的发光的局域表征手段。具有在纳米尺度微区光谱采集能力和扫描能力的近场扫描光学显微镜就成为微区光学性质研究有力手段
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根据样品定价,提供:(1)近场光学探测;(2)(2)样品表面形貌AFM探测服务。计件收费:1000元/件。 说明:一根探针测试一个样品。如果测试过程中,探针有损坏照价赔偿。
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联系方式
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