高分辨环境控制原子力显微镜
Atomic force microscope
- 品牌:OXFORD INSTRUMENTS ASYLUM RESEARCH INC
- 型号:Cypher ES
- 产地:美国
- 启用日期:2021-06-23
- 学科领域:物理学,化学,材料科学
仪器信息
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高分辨环境控制原子力显微镜
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Atomic force microscope
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计量仪器>长度计量仪器>原子力显微镜
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物理学,化学,材料科学
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(1)最大扫描范围:X,Y轴30μm,Z轴5μm (2)扫描器闭环噪音:X,Y轴<60pm,Z轴<50pm (3)分辨率:形貌成像高达原子级分辨 (4)导电模块测试电流范围:1pA-20nA (5)力谱成像测试模量范围:10kpa-100Gpa (6)加热台模块:温度范围为室温至250℃,精度0.2 ℃
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可在常温或者变温(20℃~250℃)条件下表征材料表面的形貌,测量材料的力谱,杨氏模量,导电性,表面电势、压电系数等,获取材料表面微区的力学、电学性质分布
服务信息
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表面形貌和粗糙度测量,表面微区力谱,杨氏模量、导电性,表面电势,压电系数表征
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1、常规模式:300元/片(不含探针)(限3个点,超过加收100元/点); 2、其他模块测试需加相应模块测试费用(功能模块:力学模块:100元/样/小时,电学模块100元/样/小时;光电/液相模块:150元/样/小时)
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:1、用户独立使用仪器前需在仪器共享平台网站上报名相关仪器的培训,仪器管理员培训考核通过后方可获得独立上机操作权限; 2、仪器使用前均需在仪器共享平台网站上进行预约,待审核通过后方可上机; 3、用户需按时上机,失约后将无法使用仪器; 4、其他特殊测试需求需提前联系仪器管理员,协商确认后方可委托送样测试;
联系方式
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石墨烯工程与产业研究院
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黄恒亮
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17850500305
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huanghl@xmu.edu.cn