半导体参数分析仪
Semiconductor parameter analyzer
- 品牌：Tektronix
- 型号：4200A-SCS
- 产地：美国
- 启用日期：2021-03-18
- 学科领域：自然科学相关工程与技术
仪器信息
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半导体参数分析仪
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Semiconductor parameter analyzer
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电子测量仪器>通用电子测量仪器>其他
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自然科学相关工程与技术
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I-V源测量单元（SMU）：两个±210V/100mA的源测量模块，最小测量电流量程1pA； C-V多频率电容单元（CVU）：1kHz-10MHz频率范围，±30V内置DC偏置源； 脉冲式I-V超快速脉冲测量单元（PMU）：200MSa/s，5ns采样率；
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高性能的半导体参数分析仪，含两个I-V源测量单元（SMU）、一个C-V多频率电容单元（CVU）、一个脉冲式I-V超快速脉冲测量单元（PMU），可用于未封装和已封装的半导体器件的电流电压（I-V）测试、电容电压（C-V）测试和超快脉冲式I-V测试等。
服务信息
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半导体材料及未封装/已封装的半导体器件的电压电流特性测试、电压电容特性测试等。
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160元/小时
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遵守实验室规章制度、设备操作规程和注意事项，强化安全意识，爱惜设备，节约耗材；如遇到问题，请及时联系仪器管理员。
联系方式
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物理科学与技术学院
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吴少雄
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18959219537
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wsx@xmu.edu.cn
