原子力显微镜
Atomic Force Microscope
- 品牌：Bruker Nano GmbH
- 型号：NanoWizard 4 nanoscience
- 产地：德国
- 启用日期：2021-07-21
- 学科领域：物理学,材料科学,电子与通信技术
仪器信息
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原子力显微镜
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Atomic Force Microscope
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计量仪器>长度计量仪器>原子力显微镜
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物理学,材料科学,电子与通信技术
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扫描范围：100×100×15 μm3 ； 闭环噪声：Z＜0.03nm ； 检测系统：光杠杆式，低相干半导体激光； 样品尺寸：140mm （直径）x 18mm（高度）； 光学放大：12x ； 减震措施：高性能主动式防震台；
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主要用于各种材料与器件微观表面的形貌结构、粗糙度、力学、电磁特性等方面的检测分析，以及通过扩展测量环境条件，进一步研究表面特性的变化。
服务信息
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在低维材料、半导体光电材料与器件、微纳光学等研究中，实现对微观表面的形貌结构及力学、电磁特性检测分析，帮助研究人员进行相关理论研究和材料器件制备工艺探索。
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360元/小时
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预约使用，按机时收费，其他规定详见仪器使用指南或提前联系咨询仪器管理员。
联系方式
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物理科学与技术学院
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林鼎渠
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13606949732
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lindq@xmu.edu.cn
