Bruker 原子力显微镜

Bruker 原子力显微镜

atomic force microscope

分析仪器>显微镜及图像分析仪器>扫描探针显微镜

化学,材料科学,电子与通信技术

X，Y 方向的扫描范围不低于 90μm，Z方向不低于10μm； 针对高度不低于200nm的光栅样品， lμm范围扫描时， 像素点至少 256x256,扫描成像速度不低于40Hz； 高分辨率导电模式：提供PeakForce Tuna模块，在获得样品形貌，定量样式模量，定量粘附力，定量形变量的同时，还实时获得测试范围各处的表面电势分布图；

具备以下模式：1、轻敲模式 2、接触模式 3、定量相位成像模式 4、横向力模式 5、磁场、压力、静电力显微镜 6、表面电势显微镜 7、动态和静态力曲线测试 8、力阵列测量 9、纳米刻蚀 10、纳米控制，可实现薄膜材料表面形貌、粗糙度、电势能、导电性能等参数的测试

表征样品表面微纳米尺度的三维形貌、分析表面缺陷信息、进行纳米尺度电学测试等

1、常规模式：300元/片（不含探针）（限3个点，超过加收100元/点） 2、其他模块测试需加相应模块测试费用（功能模块：力学模块：100/片；电/磁学模块：100/片；液相模块：150/片；）

1、用户独立使用仪器前需在仪器共享平台网站上报名相关仪器的培训，仪器管理员培训考核通过后方可获得独立上机操作权限； 2、仪器使用前均需在仪器共享平台网站上进行预约，待审核通过后方可上机； 3、用户需按时上机，失约后将无法使用仪器； 4、其他特殊测试需求需提前联系仪器管理员，协商确认后方可委托送样测试。