半导体参数分析仪

半导体参数分析仪

Parameter Analyzer

分析仪器>电子光学仪器>透射电镜

电子物理学

1. 最大电压源210 V；电压源设定分辨率5 μV 2. I-V电流测试等效阻抗 >1016欧姆 3. 中功率电流测量分辨率至10 aA 4. 四象限操作。 5. 最大电流100 mA，最大功率2.2 W. 6.主机具备计算机配置： 6.1 可触屏操作。 6.2 CPU主频>2 GHz，硬盘容量>120GB 3个以上USB接口，内置100/10 MB以太网络接口，14英寸以上液晶显示器。 7.系统软件具有以下功能： 7.1 Windows10操作系统, 图形化界面, 全集成化，无需编制程序； 7.2 标准半导体器件参数测试库 7.3 纳米器件参数测试库...

半导体参数分析仪接源测量单元SMU（电流源/电压源），可以向器件提供驱动电压同时测量电流，也可以向器件提供电流并测量电压；完成常规的电学测量，如电流-电压（I-V）特性曲线等参数的测试。

半导体参数仪是测试表征材料和器件电学性质、检测器件性能的必要工具，已经被广泛应用于化学、物理、微电子学、材料科学等多个领域，是实验室微纳器件测试的必备仪器。

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