原子力显微镜

原子力显微镜

Atomic Force Microscope

工艺实验设备>电子工艺实验设备>电真空器件工艺实验设备

化学

项目 100微米扫描头 10微米扫描头 样品尺寸 最大100毫米 最大培养皿高度（液面） 9毫米（液面6毫米） 手动高度调节范围 6毫米 电动趋近范围（针尖位置） 2毫米 最大扫描范围（XY） 100微米 最大高度范围（Z） 10微米 XY线性平均误差 < 0.1% 检测器噪声水平（RMS） 典型值60 pm / 最大值100 pm Z轴传感器噪声水平（RMS） 典型值180 pm / 最大值200 pm

材料表面粗糙度分析、微观结构观测、力学性能测量。

样品测试：纳米级表面三维形貌、粗糙度及微观结构成像，支持接触、轻敲、液体/真空环境等多种模式； 分析检测：力学性能（弹性模量、粘附力）。

校内用户 100元/小时； 校外用户 200元/小时。

一、用户申请条件 1.申请项目需与材料科学、纳米技术、生物医学等研究方向相关。 2.禁止测试易燃、易爆、强腐蚀性或有磁干扰的样品，特殊样品需提前提交书面申请并审批。 二、申请方式 1.至实验室办公室填写《AFM测试申请表》，详细说明测试目的、样品特性及需求（如扫描模式、分辨率、区域等）。 2.校外用户需额外提交合作导师签字同意函。 三、申请时间 1.校内用户至少提前3个工作日提交申请，校外用户提前5个工作日。 2.紧急需求需电话联系管理员协商，加急测试需支付额外费用。 四、申请流程 1.提交申请表、样品安全说明书（含成分、状态、潜在风险）、样品实物。 2.人工审核：1-3个工作日内电话反馈审核结果，未通过需补充材料。 3.测试沟通：管理员与用户确认测试细节（如扫描参数、数据格式等）。 4.测试完成后，管理员通过邮件/U盘交付数据，原始数据保留3天。 五、服务时间安排 测试时段：工作日9:00-17:00（法定节假日除外）。