半导体参数分析仪
无
- 品牌：安捷伦
- 型号：4155C
- 产地：日本
- 启用日期：2006-06-16
- 学科领域：物理学,材料科学
仪器信息
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半导体参数分析仪
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无
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工艺实验设备>电子工艺实验设备>电真空器件工艺实验设备
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物理学,材料科学
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10毫微安和0.2微伏测量分辨率
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4155C半导体参数分析仪是一种经济高效，精确的实验室台式解决方案，适用于高级器件表征。
服务信息
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器件表征
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按照样品协商确定
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需提前预约
联系方式
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物理科学与技术学院
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曹艺严
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15959281337
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xmcyy@xmu.edu.cn
