射频芯片测试系统
RF chip test system
- 品牌:NI
- 型号:NI射频芯片测试系统
- 产地:美国
- 启用日期:2023-03-13
- 学科领域:电子与通信技术
仪器信息
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射频芯片测试系统
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RF chip test system
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电子测量仪器>射频和微波测试仪器>射频和微波测量系统
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电子与通信技术
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1、18槽的控制机箱,最大带宽24GB/s,具备PXIe插槽、外部时钟插槽、混合插槽,支持PXI总线和PXI Express总线(多系统共用机箱); 2、2.6GHz四核的嵌入式控制器,8G可替换RAM,至少提供2个USB 3.0接口,4个USB 2.0接口,GPIB接口,10/100/1000兆以太网接口(多系统共用控制器); 3、多功能便携式测试仪,包含示波器、任意波形发生器、万用表、可编程直流电源、数字I/O仪器资源。示波器最大带宽500MHz,最大采样率2GS/s, 4通道输入通道,模拟输出带宽40MHz。 4、提供多用复用器开关功能,不少于2组,2通道,开关带宽不...
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用于射频信号芯片(如RFIC芯片)测试中,充当高速信号源、高速信号采集分析、矢量信号收发仪设备;用于射频芯片(如射频功率放大器、低噪声放大器、射频开关等)测试,充当射频信号发生仪以及射频信号分析仪功能。
服务信息
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射频RFIC芯片指标综测
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105元/小时
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无
联系方式
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电子科学与技术学院
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周剑扬
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13850060431
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zhoujy@xmu.edu.cn