
高速ADC/DAC测试系统
High-speed ADC/DAC test system
- 品牌:NI
- 型号:NI高速ADC/DAC测试系统
- 产地:美国
- 启用日期:2023-03-13
- 学科领域:电子与通信技术
仪器信息
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高速ADC/DAC测试系统
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High-speed ADC/DAC test system
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电子测量仪器>通用电子测量仪器>集成电路测试仪
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电子与通信技术
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1、18槽的控制机箱,最大带宽24GB/s,具备PXIe插槽、外部时钟插槽、混合插槽,支持PXI总线和PXI Express总线(多系统共用机箱); 2、2.6GHz四核的嵌入式控制器,8G可替换RAM,至少提供2个USB 3.0接口,4个USB 2.0接口,GPIB接口,10/100/1000兆以太网接口(多系统共用控制器); 3、包含高速串口仪器资源,4通道的双向数字通道,最大数据速率10.31Gbits/s,动态RAM 2GB; 4、包含模拟信号发生器功能,输出功率12dBM,频率范围500kHz~3.3GHz,调谐时间1.5 ms; 5、提供源测试功能,4通道SMU...
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用于混合信号芯片(如高速ADC/DAC芯片)测试,充当高速信号源以及高速信号采集分析设备。
服务信息
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110元/小时, 独立操作
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无
联系方式
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电子科学与技术学院
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郭子超
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15260208919
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gzc@xmu.edu.cn