
高精度ADC/DAC测试系统
High precision ADC/DAC test system
- 品牌:NI
- 型号:NI高精度ADC/DAC测试系统
- 产地:美国
- 启用日期:2023-03-13
- 学科领域:电子与通信技术
仪器信息
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高精度ADC/DAC测试系统
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High precision ADC/DAC test system
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电子测量仪器>通用电子测量仪器>集成电路测试仪
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电子与通信技术
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1、18槽的控制机箱,最大带宽24GB/s,具备PXIe插槽、外部时钟插槽、混合插槽,支持PXI总线和PXI Express总线(多系统共用机箱); 2、2.6GHz四核的嵌入式控制器,8G可替换RAM,至少提供2个USB 3.0接口,4个USB 2.0接口,GPIB接口,10/100/1000兆以太网接口(多系统共用控制器); 3、提供动态采集功能, 2通道模拟输出,DAC 24位,采样率51.2kS/s; 4.提供动态采集功能, 4个差分模拟输入通道,支持AD-DC模拟输入偶合,最大采样率于204.8kS/s; 5、提供PXI FPGA模块,63550FPGA片,块RA...
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用于混合信号芯片(如高精度ADC/DAC芯片)测试中,充当高精度信号源以及高精度信号采集分析设备;
服务信息
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110元/小时, 独立操作
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无
联系方式
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电子科学与技术学院
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郭子超
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15260208919
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gzc@xmu.edu.cn