
环境型原子力显微镜
Atomic Force Microscope
- 品牌:日立高新技术有限公司 Hitachi High-Technologies Co.,Ltd.
- 型号:AFM5300E
- 产地:日本
- 启用日期:2024-05-27
- 学科领域:化学
仪器信息
-
环境型原子力显微镜
-
Atomic Force Microscope
-
分析仪器>显微镜及图像分析仪器>光学显微镜
-
化学
-
1.1主机: 1.1.1:主机置于专业不锈钢真空腔体中; 1.1.2:所有的部件都是针对高真空和高低温环境所设计 1.1.3:Max样品尺寸≥20mm×10mm (H); 1.1.4:手动螺杆移动样品台 (XY Max ±2.5mm),Z轴步进马达,最小步进50nm,移动范围最大10mm; 1.1.5:通用型探针支架,各种功能模块通用一个探针支架; 1.1.6:标准型扫描器扫描范围 XY:20μm,Z:1.5μm,可分辨云母原子图像; 1.1.7:低相干型半导体激光器: 波长: 830 nm; 1.1.8:充气式自平衡被动防震台,垂直防震频率1.31.8Hz,水平防震频率...
-
高分辨形貌表征,真空变温原位形貌表征
服务信息
-
物理化学,表面科学
-
500元/h
-
定制型科研设备,申请使用者需要电话直接联系仪器管理员以评估测试可行性及安排可能的具体测试时间。
联系方式
-
化学化工学院
-
刘川
-
18959207071
-
cliu@xmu.edu.cn