X射线荧光镀层厚度测量仪

X射线荧光镀层厚度测量仪

Coating Measurement System

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化学

1. 电动可编程XY平台，行程125x150mm 2. 最小测量点：0.1mm 3. 最多同时测量5层（4层镀层+底材），每层可同时分析10种元素 4. 仪器重复精度，Au:RSD%<2%; Ni:RSD%<1% 5. 毛细管光学机构80um FWHM 6. 即插即用测试头 7. 3D Mapping扫描功能 8. SDD检测器 9. 镜面反射样品自动对焦功能

测量镀层厚度和成分

广泛应用于电子和半导体行业中的PCB和半导体薄膜厚度测量、电镀和涂层行业中的金属电镀层和非金属涂层测厚、材料科学和冶金行业中的金属薄膜厚度测量和合金成分分析、汽车和航空航天行业中的零部件防腐涂层和轻量化材料厚度测量，以及科研和教育领域的材料研究和教学。该仪器通过分析样品荧光强度和能量，确定元素种类和厚度，具有快速、精准、非破坏性的特点。

150元/小时

1.使用者首次使用请参加培训后开通使用权限； 2.使用者使用前请先与设备管理员确认标样，若无相关标样需联系购买； 3.正式使用前请先用标样进行校准。