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上层海洋多参数自动剖面观测系统

上层海洋多参数自动剖面观测系统

Mixing Layer Profiler

品牌:美国SeaScan科技公司
型号:XLP200
产地:美国
启用日期:2024-09-26
学科领域:地球科学
仪器信息
上层海洋多参数自动剖面观测系统
Mixing Layer Profiler
海洋仪器>多要素水文气象测量系统>水下多参数综合观测系统
地球科学
一、 技术参数 剖面观测范围:10~200米 采样频率:1024Hz 数据自容式存储 双向铱星通信:上报位置及远程更改设备配置 尺寸:直径23cm,长度382cm 快速更换可充电锂电池组供电 重量(不包括搭载的仪器设备):空气中约122kg,水中重量可调节 工作模式:设置剖面观测计划后,全自动执行剖面观测任务 含应急配重,抛弃后确保系统可安全上浮至水面 搭载传感器及仪器: 1) 湍流剪切传感器 测量范围:0~10s-1 ,精确度:5%,分辨率:10-3 s-1,通信频宽:0.1~100Hz 2) 快速温度传感器 测量范围:-5~35℃,精确度:0.005℃,分辨率:10-5...
该设备是自沉浮式剖面观测设备,用于海洋上层湍流、溶解氧、浊度、温盐等参数的剖面观测,观测数据对于海气界面过程的研究有重要意义。
服务信息
可对上层海洋及海气界面湍流、温盐、叶绿素、溶氧等多要素进行连续自主剖面观测,主要用于海气相互作用与物理-生地化交叉研究
院内:1000元/天;校内:1000元/天;校外:2000元/天
详见实验处网站
联系方式
海洋与地球学院
杨龙奇
13023832032
yanglq@xmu.edu.cn