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透射电子显微镜

透射电子显微镜

Transmission electron microscope

品牌:日本电子株式会社 JEOL Ltd.
型号:JEM-2100Plus
产地:日本
启用日期:2024-12-30
学科领域:化学
仪器信息
透射电子显微镜
Transmission electron microscope
分析仪器>电子光学仪器>透射电镜
化学
1.工作条件 1.1电力供应:220V(±10%),50Hz,1φ; 380V(±10%),50Hz,3φ 1.2工作温度:15 °C-25 °C 1.3工作湿度:< 60% 2.技术规格 2.1六硼化镧透射电镜技术规格 2.1.1功能:本系统主要用于材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构、成分分析,包含能谱仪系统、高像数CMOS相机系统。 ★2.1.2点分辨率: ≤0.19nm, 线分辨率: ≤0.14nm ▲2.1.3 最高加速电压: 200kV,加速电压最小步长: 50V 2.1.4 加速电压稳定度: ≤2ppm/min(峰峰值),物镜电流稳定度: ≤1ppm/...
透射电子显微镜(TEM)是一种高分辨率成像工具,能够提供亚纳米级的材料微观结构信息,包括晶粒大小、晶界、位错等特征,广泛应用于材料科学、物理学、化学、生物学等领域的微观结构分析、纳米材料表征及界面特性研究。
服务信息
透射电子显微镜(TEM)凭借其卓越的分辨率和放大能力,在材料科学、物理学、化学等多个领域发挥着关键作用。它不仅能够详细分析材料的微观结构,如晶粒大小、晶界、位错等,还适用于纳米材料的尺寸、形貌和分散度研究,以及复合材料中不同组分间的界面特性。在化学领域,它对催化材料的活性位点识别、催化剂颗粒特性分析等方面具有不可替代的价值。
开机费 50元/次 耗材费 50元/次 机时费 100元/小时 本仪器暂未开放
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化学化工学院
张美林
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