半导体综合参数测试系统

半导体综合参数测试系统

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电子与通信技术

一、矢量网络分析仪 ▲1、频率范围：10MHz～26.5GHz（最低测试频率可扩展至500Hz） ▲2、频率分辨率：≤0.1Hz ▲3、频率准确度：≤±1×10-7（23℃±3℃） 4、端口 1 谐波抑制 ≤-48dBc@0.01～4GHz， ≤-57dBc@4～26.5GHz（典型值：≤-68dBc@14～26.5GHz） 端口 2 谐波抑制 ≤-13dBc@0.01～4GHz， ≤-18dBc@4～26.5GHz（典型值：≤-30dBc@14～26.5GHz） 5、功率扫描范围 ≥33dB@10～50MHz ≥35dB@0.05～4GHz ≥38dB@4～16GHz...

用于半导体芯片测试、材料测试、天线测试、高速线缆测试、微波部组件测试

半导体分析仪是一种用于测试和分析电子设备、尤其是集成电路和半导体器件的仪器。其服务领域和范围包括但不限于以下几个方面：射频（RF）和微波设备测试；通信系统测试； 无线通信标准符合性测试；半导体器件测试；天线设计和测试；材料特性分析；电磁兼容性（EMC）测试等。

计费方式：计时； 明细如下： 开机费 150元/小时；机时补贴费 0元/小时； 耗材费 150元/小时； 合计：300元/小时

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